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Seminário NI Automotive Day

National Instruments promove evento para apresentar novas tecnologias voltadas à indústria automotiva

Data de publicação: 23 outubro 2008

Seminário NI Automotive Day

A indústria automotiva brasileira deve passar por uma grande transformação nos próximos anos, devido à posição de destaque conquistada e também aos desafios tecnológicos como pesquisa de novos materiais, combustíveis alternativos, sofisticadas técnicas de simulação, redução do número de protótipos, projetos globais, testes mais rigorosos e a crescente quantidade de sistemas eletrônicos que fazem parte dos veículos modernos. Antecipando esse cenário que está por vir, a National Instruments, realiza no próximo dia 6 de novembro, no Mercure Hotel, em Santo André/SP, o Seminário NI Automotive Day. O encontro contará com a presença do diretor internacional de Marketing da National Instruments, Dave Wilson. O keynote falará sobre “as tecnologias avançadas para a próxima geração de aplicações automotivas”. O público-alvo do seminário é formado por engenheiros, técnicos e pesquisadores do segmento automotivo.

 

No Seminário NI Automotive Day 2008 a empresa apresenta soluções de hardware e software que atenderão as exigentes necessidades do segmento automotivo. Na ocasião, estão confirmadas a exposição de alguns estudos de caso com grandes empresas do setor automotivo, como Mercedes-Benz, Delphi, MWM International e Iochpe Maxion, que mostrarão os resultados obtidos com a aplicação das ferramentas da National Instruments. Além disso, são também destaques do encontro, as novas tecnologias e tendências, demonstrações práticas e os novos produtos e ferramentas para desenvolvimento de aplicações de teste, controle, aquisição de dados e automação

 

Na grade do evento constam ainda palestras com os temas: “Novas Funcionalidades do LabVIEW para aplicações no segmento automotivo”, que será apresentada por Marcos Cardoso, engenheiro de Vendas e Rogério Rodrigues, engenheiro de Marketing Técnico da National Instruments Brasil;  “Solução de usuário – Melhoria de confiabilidade e segurança de um banco de provas de rodas utilizando CompactRIO”, ministrada por Paulo Paraizo, engenheiro de produto da Iochpe-Maxion e “Solução de usuário – Mapeamento de deslocamento de válvulas de desenvolvimento de sistema de freio motor” por Ricardo Ranal, Gerente de Desenvolvimento de Software e Robson Nascimento, representante da MWM International.   

 

Leandro Fonseca, gerente de vendas da National Instruments, dissertará sobre “Novas Tecnologias para teste hardware-in-the-toop”. André Pereira, engenheiro de vendas da National Instruments Brasil, abordará o tema “Ferramentas da National Instruments para simulações na indústria automotiva”. Para encerrar o NI Automotive Day 2008, Rafael Galvani, Carlo das Neves e Djeymeys Peressim, da área de Engenharia de Sistemas da Delphi Powertrain Systems, apresentam a palestra “Solução de Usuário – Simulação hardware-in-the-loop para módulos de controle de motor utilizando o NI CompactRIO”.

 

 

Agenda:

Evento: Seminário NI Automative Day

Data: 6 de novembro de 2008

Horário: das 8h às 12h15

Local: Hotel Mercure – Av. Industrial, 885 – Jardim - Santo André - SP

 

 

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